3ω法、拉曼光譜法、時(shí)域熱反射法（TDTR）和頻域熱反射法（FDTR）是納米材料熱導(dǎo)率測(cè)量中常用的技術(shù)，它們各有原理和適用場(chǎng)景，本文主要介紹林賽斯 TF-LFA L54 頻域熱反射法測(cè)量納米材料的熱導(dǎo)率。

頻域熱反射法是一種在頻域內(nèi)對(duì)薄膜熱性能進(jìn)行非接觸式表征的測(cè)量技術(shù)。該方法利用熱反射效應(yīng)構(gòu)建一個(gè)高靈敏度的溫度計(jì)，通過(guò)監(jiān)測(cè)樣品的反射率來(lái)檢測(cè)其表面的溫度變化。檢測(cè)時(shí)使用波長(zhǎng)為532nm的連續(xù)激光（探測(cè)激光），同時(shí)使用不同波長(zhǎng)（405nm）的調(diào)制泵浦激光進(jìn)行加熱。局部加熱會(huì)引起反射率的變化，熱激發(fā)與檢測(cè)之間的相位滯后是通過(guò)鎖相放大器測(cè)量的。利用熱擴(kuò)散傳輸模型對(duì)頻域中的響應(yīng)進(jìn)行建模，可以確定熱導(dǎo)率、體積熱容、熱擴(kuò)散率、傳熱效率和邊界熱導(dǎo)率。在樣品表面頂部沉積一層薄薄的金屬換能器層（厚度為60-70nm），以提高反射率的溫度系數(shù)（dR/dT），同時(shí)降低激光在材料中的穿透深度。

TESTING METHOD PRINCIPLE

熱導(dǎo)率是材料科學(xué)中的一個(gè)關(guān)鍵因素，精確測(cè)量熱導(dǎo)率對(duì)于材料科學(xué)研究、工程應(yīng)用開(kāi)發(fā)、能源技術(shù)革新及工業(yè)質(zhì)量控制等多個(gè)領(lǐng)域至關(guān)重要。然而對(duì)于納米材料而言，由于其小體積、異質(zhì)結(jié)構(gòu)和特殊界面效應(yīng)，使得傳統(tǒng)熱性能測(cè)量方法難以直接應(yīng)用，這給納米材料熱導(dǎo)率的測(cè)量帶來(lái)了特殊的技術(shù)挑戰(zhàn)。頻域熱反射法是一種在頻域內(nèi)對(duì)薄膜熱性能進(jìn)行非接觸式表征的測(cè)量技術(shù)，該方法無(wú)需提供材料的熱容和密度，允許對(duì)材料進(jìn)行各項(xiàng)異性（面間和面內(nèi)方向）測(cè)量，是解決納米材料熱導(dǎo)率測(cè)量難題的有效方法。