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      塞貝克系數(shù)/電阻測試儀

      產(chǎn)品簡介:塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 LSR L31 可擴展應(yīng)用:低溫配件支持液氮自動冷卻(-100°C)及薄膜樣品測量;攝像頭和高阻配件分別提升電導率精度與測量范圍。完整ZT值需熱導率數(shù)據(jù),通常依賴外部設(shè)備(如LFA)。可集成LFA導熱儀(LZT測量儀),或選配特殊適配器,采用哈曼法直接測量固體熱導率,從而直接獲得ZT值(結(jié)合塞貝克系數(shù)和電導率)。此集成哈曼法的升級系統(tǒng)稱為LSR-4,價值顯著。

      產(chǎn)品型號:LSR-3 (LSR L31)

      更新時間:2025-08-12

      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

      訪問量:25853

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                             塞貝克系數(shù)/電阻測試儀                        
                             
                             

      基礎(chǔ)版 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 LSR-3(LSR L31)可通過多種可選配件功能擴展應(yīng)用范圍。例如,低溫配件支持液氮冷卻至 -100 °C 的全自動測量,并配備專用的薄膜適配器,用于測量薄膜及薄層樣品。


      可選攝像頭功能可實現(xiàn)電導率的高精度測定,而高阻配件則顯著擴展了測量范圍,適用于低電導率樣品的表征。


      由于計算無量綱值 ZT 時,除塞貝克系數(shù)和電導率外,還需熱導率數(shù)據(jù),因此通常需借助其他設(shè)備(如激光閃射法導熱儀 LFA)進行測定。為解決這一問題,林賽斯 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 可集成額外的激光閃射法導熱儀(參見 LZT 測量儀),或采用特殊適配器,通過哈曼法直接測量固體材料的熱導率。這是一種直接的ZT測定方法,結(jié)合原始的兩項測量數(shù)據(jù),可推導出熱導率。集成哈曼法的 LSR 測量系統(tǒng)因其顯著附加價值,被稱為 LSR-4 。通過選配擴展測量電子設(shè)備,LSR-4 測量系統(tǒng)還可基于相同測量原理,利用阻抗光譜技術(shù)測定熱電模塊(TEG)的 ZT 值。

                             
      功能

      • 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀

        使用可更換爐體,可在 -100 °C 至 1500 °C 的溫度范圍內(nèi)進行測量。

      • 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀

        高速紅外爐,可在測量過程中實現(xiàn)出色的溫度控制,并提高樣品處理量。

      • 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀

        有多種熱電偶可供選擇,還可選配攝像頭,以實現(xiàn)精確的電阻測量。

      • 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀

        使用哈曼方法和阻抗光譜法直接進行 ZT 優(yōu)值測量。
                         
       規(guī)格參數(shù)

      類型LSR-3 (LSR L31)

      溫度范圍:紅外爐體:室溫至 800 °C / 1100 °C
      電阻爐體:室溫至 1500 °C
      低溫爐體:-100 °C 至 500 °C
      水冷系統(tǒng):必選
      測量方法:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法 / 斜率法
      電阻率:四探針法

      塞貝克系數(shù)

      測量范圍:

      1 µV/K 至 5000 µV/K(靜態(tài)直流法)
      氣氛:惰性、還原性、氧化性、真空
      推薦使用低壓氦氣
      電導率測量范圍:0.01 至 2 × 105 S/cm
      樣品夾具:垂直夾持,位于兩電極之間
      可選適配器,適用于薄膜和薄層樣品
      電流:低漂移電流,0 至 160 mA(可選 220 mA)

      樣品尺寸

      (塞貝克系數(shù)測量)

      底面積:2 至 5 mm2
      最大長度:23 mm
      最大直徑:6 mm
      電極材料:鎳電極(-100 °C 至 500 °C)
      鉑電極(-100 °C 至 1500 °C)
      圓盤形樣品尺寸:直徑:10 mm、12.7 mm、25.4 mm熱電偶類型:K 型、S 型、C 型
      熱電偶測量間距:4 mm、6 mm、8 mm





      附加模塊LSR-4 升級版
      直流哈曼法:直接測量熱電元件的 ZT 值
      交流阻抗光譜法:直接測量熱電模塊(TEG / Peltier 模塊)的 ZT 值
      溫度范圍:-100 °C 至 400 °C
      室溫至 400 °C
      樣品支架:針式接觸,確保絕熱測量條件
      樣品尺寸:矩形樣品:底邊 2 至 5 mm ,最大長度 23 mm
      圓柱形樣品:最大直徑 6 mm ,最大長度 23 mm
      模塊尺寸:最大 50 mm × 50 mm


       

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